测试S27基准电路使用内建自测试和测试模式生成

S.Nagaraju¹,Ch.N.L.Sujatha²,J.S.S.Ramaraju³

M。科技ECE追求Bhimavaram工程与技术研究所、西戈达瓦里河,一个。P、印度
助理教授,ECE、Bhimavaram工程与技术研究所、西戈达瓦里河。P、印度
助理教授,ECE、Bhimavaram工程与技术学院(BVRM),西戈达瓦里河,一个。P、印度

文摘

在该方法测试S27顺序使用内建自测试电路。本文描述了一个功能较宽的测试片上测试生成方法。硬件是基础上的应用主要输入序列初始从著名的可获得的状态,因此使用电路产生额外的可获得的州。随机主要输入序列改变,以避免重复同步,从而推迟不同组的状态。功能较宽的测试是基于双模扫描测试,避免在测试电路通过确保遍历功能只可及州时钟周期的检查。这些包括输入向量和等效反应。他们检查正确操作测试内部芯片验证设计的节点。有用的测试覆盖一个非常高的比例的模型化了的故障逻辑电路和一代是这种方法的主要话题。功能向量常常理解为验证向量,这些是用于验证硬件是否匹配其规范。吃世界,任何一个向量应用理解是在开发测试向量应用功能故障覆盖率。本文对芯片测试生成显示使用简单的固定基准电路硬件设计与小的参数没有改变设计的一代没有模式。 If the patterns of the input test vector results a fault simulation then circuit test is going to fail.

介绍

测试的应用程序的两种模式can-based测试中描述[1]- [3]。在相关测试是检测延迟故障情况下非功能性操作。对于这些非功能操作条件的原因之一是这样的。当一个任意状态作为扫描状态,双模测试可以通过状态转换电路,不能发生在功能操作。因此,慢路径不能激活的功能操作期间可能导致电路失败[1]。此外,目前的要求高于可能的功能操作期间可能会导致电压下降将降低电路,导致它失败[2],[3]。在这两种情况下,电路将在函数运算操作正确。

功能较宽的测试[4]确保扫描状态是一种状态,电路可以进入功能操作期间,或一个可到达的状态。随着侧向测试[5],他们操作的电路功能模式两个时钟周期后初始状态扫描。这导致双模的应用测试。

扫描状态是一个可到达的状态以来,双模测试需要通过状态转换电路,保证可以在功能操作。延迟故障检测的测试也会影响功能操作,和当前的要求不超过可能的功能操作期间。这减轻了在测试中描述的类型[1]- [3]。此外,功耗的快速实用的时钟周期期间功能较宽的测试期间可能不超过功能操作。

测试生成的程序功能和pseudo-functional scan-based测试中描述[4]和[6],[13]。过程生成测试集离线应用程序从外部测试人员。功能scan-based测试只使用可获得的状态作为扫描状态。Pseudo-functional scan-based测试使用功能限制,以避免不可到达的国家被约束。

这项工作考虑了片上(或内置)代功能较宽的测试。片上测试生成减少了测试数据量和促进速度测试应用程序。芯片上的时滞故障测试生成方法,如中描述的[14]和[15],不强加任何限制美国作为扫描状态。实验结果表明任意用作扫描状态不太可能是一个可到达的国家[4]。[16]的片上测试生成方法应用pseudo-functional scan-based测试。这样的测试是不足以避免不可到达的状态作为扫描。片上测试生成过程中描述这个工作保证只将使用可获得的州。应该注意,延迟故障覆盖率使用功能较宽的测试是可实现的,一般来说,低于实现使用任意侧向测试[14],[15]或pseudo-functional侧向测试[16]。这是由于这样的事实:功能侧向测试避免不可到达scan-instates,允许的描述的方法[14]- [16]。然而,实现这一目标所需的测试那些会导致较高的故障覆盖率也在测试。 They can also dissipate more power than possible during functional operation.

只有功能较宽的测试被认为是在这个工作。根据该芯片上的测试生成方法,该电路用于测试应用程序过程中生成可及状态。

这减轻需要计算可获得的州或功能限制通过离线过程[4],[6],[13]和[16]。底层观察相关的方法之一[4]离线测试生成,,是这样的。

如果一个主要输入序列应用于功能模式从一个可到达的状态,所有的状态下遍历是可获得的。这些国家中的任何一个可以用作应用程序的初始状态的功能较宽的测试。通过生成一个芯片上,并确保它通过一组不同的电路可获得的州,片上测试生成过程能够实现高转换断层报道使用功能较宽的测试基于A .应该注意,一组故障检测的F, F最多| |需要不同的状态。这个数字通常是只有一小部分的所有可获得的州的数量电路。因此,主电路输入序列不需要通过所有可获得的州,但是只有通过足够大的数量相对于| |,为了有效的检测目标的缺点。

本文中使用的硬件产生的主要输入序列由一个线性反馈移位寄存器(LFSR)作为随机源[17],和少量的盖茨(近6盖茨需要每一个基准电路考虑)。盖茨用于修改随机序列为了避免序列的电路情况下反复为相同或相似的可获得的国家。这被称为重复同步[18]。此外,片上测试生成硬件组成一个单一的门是用来确定哪些测试基于将被应用到电路。结果是一个简单的和固定的硬件结构,即根据给定电路只有通过以下参数。

1)LFSR位的数量。

2)主要输入序列的长度。

3)具体盖茨用于修改LFSR序列的序列。

4)具体门用于选择的功能较宽的测试应用于电路的基础上。

5)种子的LFSR为了生成几个主要输入序列和一些测试的子集。

片上测试生成硬件是基于描述的一个[19]。它不同于在以下方面。

框图的LFSR再播方案

线性反馈移位寄存器(LSFR)是一个移位寄存器的输入是一个线性函数其之前的状态。唯一单位XOR的线性函数,因此这是一个移位寄存器的输入点是由异(XOR)的一些整体移位寄存器的值失败。的初始值LFSR叫做种子,寄存器的操作是确定性的,产生的流值的寄存器是完全由当前(或之前)状态。种子用于生成一个测试模式和相应的测试数据集。LFSR长度,r,至少是smax + 20 smax在哪位在任何指定的最大数量的测试数据集。的r-bit LFSR r-bit种子开始初始化。这个初始种子用于生成多维数据集通过运行第一个测试的LFSR m时钟周期(m是扫描长度)来填充扫描链。

在PARTIAL-SCAN侧向测试电路

在全扫描电路中,侧向测试首先扫描状态用两个主要输入向量,用,然后应用于功能模式。达成的最终状态测试扫描结束。测试可以划分为两种模式,应用于一个功能的时钟周期,应用于第二个功能的时钟周期。下的应用做一个缓慢的时钟允许信号转换电路中解决。下快速完成时钟的应用为了捕捉signal-transitions推迟。检测到故障通过观察的主要输出向量获得响应,当最后的状态是扫描出来。在一个完整的扫描电路,扫描状态是一个完全指定的状态。扫描后的所有状态变量已知值分配的电路。此外,所有状态变量的值观察期间划分操作结束时测试。说明,我们考虑一个电路的两个主要输入和五个状态变量,用假设和扫描,一个联合国扫描。 A possible scan-in state is 000xx, where x stands for an unspecified (unknown) value. In a broadside test for this circuit, may be a partially-specified state as well. For example, suppose that with and we obtain 1x01x. Let we obtain the two-pattern test000xx 00, 1x01x 11. With partially- specified patterns, it may not be possible to activate certain faults. In addition, faults whose effects are propagated by the second pattern to or will not be detected by the scan-out operation at the end of the test. Therefore, it is necessary to consider broadside tests with more than two primary input vectors. The primary input vectors are then applied in functional mode. The state at time unit of the test, where is the next-state obtained when the present-state is and the primary input vector is There is one time unit where such that is applied under a fast clock in order to capture delayed signal-transitions. Application of for such that is done under a slow clock to allow signal-transitions in the circuit to settle. Under the slow clock the circuit operates as a fault free circuit.

PESUDO随机测试生成

的三个主要目标是:

(a)开发一个电池的统计测试来检测非随机性二进制序列构造使用随机数生成器和伪随机数生成器用于加密应用程序,

(b)产生的文档和软件实现这些测试,和

(c)在使用提供指导和应用这些测试。伪随机生成模式,似乎是随机的,但事实上是确定的(重复)。线性反馈移位寄存器(LFSR)加权伪随机测试生成自适应伪随机测试生成

2.3.1算法测试生成

主要控制输入列表应该检测到错误的位置。

确定主要输入条件激活故障,使主输出,故障可以观察到。

2.3.2线性反馈移位寄存器(LFSRs)

高效的设计测试图案发生器和输出响应分析器(CRC)也使用FFs +几XOR盖茨比柜台

更少的盖茨

更高的时钟频率

两种类型的LFSRs外部反馈,内部反馈

更高的时钟频率

LFSR生成周期序列必须开始在一个非零状态,LFSR的最大长度序列2 n 1不生成所有0 s模式(卡住状态)的特征多项式LFSR生成maximumlength序列是一个本原多项式最大长度序列是伪随机数字0 =数量的1 + 1的相同数量的连续的0和1 1/2的运行length1 1/4的运行长度2(只要分数导致积分数量的运行)。

连续基准电路s27

逻辑门是在主要输入组合(2 ^ 4 = 16)。

S27电路有三个扫描电路(f / f„s),然后扫描输入2 ^ 3 = 8。

S_a_0故障产生的逻辑门(a3)。

Scan-in-state输入s0, s1, s2和它扫描表示。

在“1010”最初LFSR寄存器值。电路上面考虑,让000 xx 00 1 x01x01 0 x1xx 01, 11 x00 00 10111 10。我们注意到在联合国两个扫描状态变量未指明的。这意味着可以用作扫描状态,而不是和前两个模式的测试可以省略。生成的测试将0 x1x 01。在扫描状态的测试中,我们可以指定任意的价值。假设被指定为1,假设这将导致在指定的值为0。我们获得011 xx 01, 11000 00 10111 10。最后三种状态下的遍历0 x1xx 11 x00和10111年。有指定值,更多的错误可能会被检测到。一般来说,获得一个长度较短的测试从一个给定的测试,我们认为我们寻找最高的时间单位,这样以来未指定的值在所有联合国扫描被选中,这样它是不明在联合国扫描状态变量。 For a full-scan circuit, all the tests will be of length two. This is due to the fact that all the states are fully-specified.

S27基准电路时序线路的标准。

这里我们使用s27基准电路的测试电路。

应用测试向量作为s27板凳标记顺序的输入电路。

I0, I1、I2 I3是电路的输入

结论

delay-inducing缺陷的存在是造成今天在半导体行业越来越多的担忧。测试等delay-inducing缺陷,scan-based过渡故障测试技术被实现。片上测试生成的优势

它减少了测试数据量

促进速度测试应用程序。

达到较高的故障覆盖率。

本文中使用的硬件产生的主要输入序列由一个线性反馈shiftregister (LFSR)的随机源和少量的大门。

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