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使用ALU生成测试模式新手法

抽象性

集成电路能力提高为设计者提供将复杂功能纳入它的可能性处理器是这些复杂电路中发现的一般用途模块之一,可复用测试显示处理器通过循环算术操作可达到与LFSR相似的故障覆盖水平加权假冒技术也用于提高故障覆盖加权伪技术导致低测试时间和功率使用算术函数生成测试矢量正成为有吸引力的解决方案,因为系统核心内部算术数据路径可能复用测试既不需要附加IC区 也不需要特殊总线传输测试向量可按标准地址或数据总线发送模块测试四种基本算术运算程序中,加法最有优势:通常用硬件执行,能提高能量和时间效率并,如果总线需要集成电路容量提高,设计者便有可能把复杂功能加进电路中处理器是这些复杂电路中发现的一般用途模块之一,可复用测试显示处理器通过循环算术操作可达到与LFSR相似的故障覆盖水平加权假冒技术也用于提高故障覆盖加权伪技术导致低测试时间和功率使用算术函数生成测试矢量正成为有吸引力的解决方案,因为系统核心内部算术数据路径可能复用测试既不需要附加IC区 也不需要特殊总线传输测试向量可按标准地址或数据总线发送模块测试四种基本算术运算程序中,加法最有优势:通常用硬件执行,能提高能量和时间效率同时,如果总线要求测试向量分片传输,它可以通过传播载波信号分解成小操作项目建议使用ALU设计低功率区高效测试生成器TPG设计时使用新提议的运算选择添加器替代ALU二进制加法帮助实现低电耗低、低面积低和慢速超前设计

S.Selvi,M.Thangamani

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