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ANOM优化研究线放电将使用Taguchia€™实验设计

文摘

为了提高生产力,优化工艺参数起着至关重要的作用。这样的一个过程,优良的表面光洁度和尺寸精度能够达到与线放电(WEDT)。目前的工作重点是分析手段(ANOM) WEDT工艺参数。基于田口实验计划就是正交数组。提高表面光洁度等响应参数被发现和材料去除率43.17% (MRR)执行ANOM后取得9.5%的研究。已经被执行验证确认测试结果。

Gajanan M奈克,Abhinaba罗伊,萨钦B,原名

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