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自动测试模式生成与电源意识的努力，其验证的给定设计(asic)用于网络应用程序

摘要

项目论文，讨论一个给定的专用集成电路设计的可测试性设计流程。随着技术趋势从小规模集成(SSI)不断缩小到超大规模集成(VLSI)，可测试性设计也被更严肃地纳入ASIC流程。本文描述了为可测试性而设计的内容、原因和方式。在RTL上进行扫描插入，将设计转换为扫描设计。考虑到测试功率的降低，在扫描插入设计中实现了测试模式的自动生成。最后进行模式验证，然后将其传递给ATE，以检测设计中的实际缺陷。

Miteshwar帕特尔

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