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设计并实现用背负算法可靠倍增

抽象性

数字乘法是最关键算术函数系统总体性能取决于乘法吞吐量负偏差温度不稳定效应发生时,pMOS晶体管受负偏差(Vgss=-Vdd),提高pMOS晶体管阈电压并降低乘法速度类似现象,正偏差温度不稳定,发生时nMOS晶体管正偏差两种效果都降低晶体管速度,从长远看,系统可能因时间偏差失效因此,必须设计可靠的高性能乘法论文中,我们建议老化认知乘法设计,并配有新颖自适应持有逻辑电路乘法能够通过可变延时提供更高通量并调整AHL电路以缓解因老化效应造成的性能退化此外,拟建架构可应用到列反转乘法

CH.D.VishnuPriya

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