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抽象性

泰纳里ZnIn2S4薄膜用喷雾热解法沉入玻璃基底原封ZnIn2S4胶片和退片特征使用XRD、UV-Vis-NIR光谱学和拉曼频谱、FESEM、EDAX和光照XRD结果显示六角结构光学研究显示550°C退火薄膜最大透明度近88%(ZIS-T5)ab吸附边缘值估计分别为2.79ev2.89eV、2.94eV和3.3eVsnIn2S4薄膜词学显示rules洋娃娃而不是微孔,EDAX频谱显示膜组成闭合声学复合Pl频谱强射带+470Nm观测到归存薄膜ZIS和退职薄膜ZIS-T1ZIS-T2

shemalatha、jaliIllakkiya、RachelOommen

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