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SnO2薄膜生长、结构学、光学和文理学研究

抽象性

Tinbox薄膜用化学喷雾热解沉入温度400摄氏度非操作玻璃子片上,溶液浓度介于0.2M至0.5M.使用扫描电子显微镜、XRD、V-Vis光谱技术研究沉积薄膜的结构、光学和表面形态特性SEM研究显示SnO2片展示表面异常粒子和粒子增量加溶集中XRD研究显示薄膜晶状和四角相结构微结构参数,如晶体大小、微菌株和变异密度计算并发现依赖溶液富集SnO2薄膜光带空白值使用UV-Vis光谱学反射数据计算从数据中,能量波段差介于2.72eV到2.95eV薄膜反射索引随着溶液集中度下降而下降

穆哈米德SajeerK 穆哈默德拉菲N级

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