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m范围微数据处理半导体设备使用高分辨率ADC

抽象性

VLSI技术设备使用Si等半导体材料编译需要监控微V范围电压拟工作的目的是用实时设施测量电压和数据记录应用这有助于理解nm范围设备特征工作还将侧重于nm传感器和装置测试拟工作使用阻抗法这种方法线性精确测量流内置电阻数列并测量当前路径和电压下降可应用Ohms定律判定电压设计包含极精密ADC并有极佳转换速度微控件数据实时记录系统将具有成本效益并有其局限性设计包括存储数据存储存储存储卡设施

米那尔M Ratnparkhi,MinaksheeMPatil