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优化和功率降低内置修复分析仪的记忆

文摘

由于大型模具大小和复杂的制造过程结合记忆和逻辑,soc遭受相对较低的收益率,迫使收益率优化技术。所占据的区域嵌入记忆需要总面积的一半以上的一个典型的SoC,和比例预计将在未来继续增加。因此,整个SoC产量由内存控制产量,产量和优化内存SoC环境起着至关重要的作用。提高产量、内存数组元素通常配备备用。基础设施,提供了最佳的修复率与单个测试执行和响应的测试表示错地址和存储。最后分析来找到解决的办法是进行存储错误地址。错误检测综合症storing-based检测方法为基础,其中包括连续评估代码在接收机综合症。功耗在测试模式比在正常模式。为了减少权力,一些在测试模式生成转换是减少使用的一点——交换线性反馈移位寄存器导致功率降低。

年代。Jeevitha, T。Angala Parameshwari, R.Yamini

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