特刊文章雷竞技app下载苹果版

小延迟缺陷检测延迟签名分析测量技术

文摘

提出了一种延迟测量技术利用特征分析,提出延迟测量技术和扫描设计检测不确定的缺陷。明确的提出了测量技术措施推迟敏化路径的分辨率时钟发生器芯片上的变量。提出了扫描设计实现完整的芯片上的延迟测量在测量时间短使用提出延迟测量技术和额外的门闩存储测试向量。评价与罗姆0.18米过程表明,测量时间减少67.8%的价格相比平均延迟测量与标准扫描设计。面积开销大于23.4%的延迟测量体系结构使用标准扫描设计和差异之间的面积开销增强扫描设计和该方法平均是7.4%。数据量是2.2倍的平均测试为正常测试。

Ananda S.Paymode。Dnyaneshwar K.Padol。桑托什B.Lukare

阅读全文下载全文|访问全文