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测试组合使用PSEODORANDOMBIST

抽象性

edorandom内置自测试生成器已被广泛用于测试集成电路和系统并积器三重测试模式生成法提出并产生数组测试模式并加重0、0.5和1积聚器大都见于当前VLSI芯片中,并可以高效驱动BIST模式生成硬件硬件需求FPGASPARTAN3最终测试模式生成5bit和C880测试平台

GaneshBabu.J,Radhika.P

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