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测试图案发生器(TPG)低功耗逻辑建自测试(BIST)

文摘

本文研究提出了一个逻辑阿拉伯学者利用线性反馈移位寄存器(LFSR)生成低功率测试模式;它减少了数量的转换的输入被测电路使用交换技术。设计架构是用Verilog HDL编程和模拟使用抑扬顿挫的EDA工具180纳米技术和提出的设计提供了更好的性能功耗比标准LFSR。

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