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使用内置的自检和测试模式生成对S27基准电路进行测试

摘要

在该方法中，我们使用内置自检对S27顺序电路进行了测试。本文介绍了一种用于功能侧面测试的片上测试生成方法。硬件是基于一个已知可达状态的初级输入序列的应用，因此使用电路产生额外的可达状态。随机主输入序列被改变，以避免重复同步，从而推迟不同的可达状态集。功能侧面测试是基于双模式扫描的测试，通过确保电路在检查的功能时钟周期中仅遍历可达状态，从而避免过度测试。它们由输入向量和等效响应组成。他们通过测试内部芯片节点来检查经过验证的设计是否正常运行。有用的测试覆盖了逻辑电路中建模故障的非常高的百分比，它们的产生是该方法的主要主题。通常，功能向量被理解为验证向量，它们用于验证硬件是否实际匹配其规格。然而，在ATE世界中，应用的任何一个向量都被理解为在开发测试期间应用的功能故障覆盖向量。本文介绍了一种基准电路的片上测试生成，采用简单的固定硬件设计，在设计中改变很少的参数以生成模式。 If the patterns of the input test vector results a fault simulation then circuit test is going to fail.

S.Nagaraju Ch.N.L。Sujatha, J.S.S.Ramaraju

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