亚纳米涂层的AES-EELS联合分析

4日联合活动^th结晶学与新材料国际会议^th生物聚合物与聚合物科学国际会议

2018年11月19日至20日，罗马尼亚布加勒斯特

Nikolay Plusnin

俄罗斯FEB ras自动化与控制过程研究所

ScientificTracks抽象:Res. Rev. J Mat. science

摘要

这项工作的目的是展示俄歇电子(AES)的联合电子能谱和价电子能量损失(EEES)的可能性，用于分析二维或亚纳米涂层的结构-化学和相态。根据AES数据确定了涂层的组成、厚度、生长机理和电子能谱结构。此外，根据EELS数据确定了涂层的结构相态和局部电子空间结构。最佳探测深度(0.25 nm)的选择保证了两种方法分析结果的互加性和对亚纳米涂层厚度的适应性。结果表明，EELS是分析原子局部价电子密度的非常敏感的方法，主束能量和涂层参数(涂层厚度、吸附原子标记物的排列、涂层沉积状态)的变化，以及基底贡献的减去，可以增加AES-EELS分析亚纳米涂层及其界面结构状态的信息性。

传记

Nikolay Plusnin目前是俄罗斯符拉迪沃斯托克RAS FEB自动化与控制过程研究所的首席研究员。他已完成物理-数学科学博士的学习。主要研究方向为电子纳米材料及其结构相分析。曾任日本仙台东北大学客座教授。他也是国际期刊《表面科学与纳米技术电子期刊》的顾问委员会成员。他发表了超过35篇科学论文。他的研究得到了俄罗斯教育和科学部、科学院和政府的支持。

电子邮件:(电子邮件保护)

亚纳米涂层的AES-EELS联合分析

4日联合活动th结晶学与新材料国际会议th生物聚合物与聚合物科学国际会议2018年11月19日至20日，罗马尼亚布加勒斯特

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4日联合活动^th结晶学与新材料国际会议^th生物聚合物与聚合物科学国际会议

2018年11月19日至20日，罗马尼亚布加勒斯特