裂纹/损伤评估和微材料制造与电场的关系

11^th先进材料与加工国际会议

2017年9月7日- 8日苏格兰爱丁堡|

Masumi萨卡人

东北大学，日本

ScientificTracks抽象:Res. Rev. J Mat. science。

DOI:10.4172 / 2321 - 6212 c1 - 005

摘要

许多研究者对电流和焦耳加热作用下材料的评价进行了研究，取得了丰硕的成果。在我的报告中，首先讨论导电材料中的裂纹问题。解释了受电流作用的平板电裂纹问题的路径无关积分与裂纹尖端附近焦耳热的关系以及由于单位裂纹扩展而引起的平板电阻的增加。在裂缝无损评价方面，介绍了高灵敏度直流电位降技术即紧密耦合探头电位降技术(CCPPD)在闭合裂缝评价中的原理和优越性。同时还提出了多裂纹的评价方法。第二部分介绍了微纳材料评价领域的一个课题，即金属纳米线网在焦耳热作用下的电失效问题。在电流控制和电压控制条件下，解释了纳米线在网格中顺序熔化的特性。其次，讨论了与集成电路可靠性相关的金属薄膜材料中的电迁移(electromigration, EM)现象，即由于电子在高密度中流动而引起的原子扩散现象，重点讨论了钝化对损伤抑制的影响。最后，介绍了利用电磁技术制备线材和球面微材料的方法，并讨论了焦耳加热引起的温度对成形微材料形状的影响。此外，还从几个方面讨论了原子迁移的其他现象，如应力迁移和离子迁移。 Electric field and Joule heating are connected with materials science and evaluation on many equipments, machines and structures. As written above, four topics related to these physical quantities are reviewed in this presentation. This presentation is supported by JSPS KAKENHI Grant-in-Aid for Scientific Research (B) No.17H03139.

传记

Masumi Saka于1977年获得工学学士学位，1982年获得机械工程工程博士学位，均毕业于日本仙台东北大学。1993年，他成为日本东北大学的教授。主要研究方向为材料体系评价和金属微纳米材料制备。他是《金属微纳米材料》一书的编辑。

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